CWDM一拖四掃描測(cè)試系統(tǒng)
CWDM一拖四掃描測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品功能介紹
1. 充分利用寬帶光源和光譜分析儀的低利用率實(shí)現(xiàn)寬帶光源和光譜儀的共享，可以供四個(gè)測(cè)試工位分時(shí)復(fù)用執(zhí)行測(cè)試。
2. 兼容CWDM器件和模塊掃描測(cè)試。支持高低溫測(cè)試，升降溫的自動(dòng)延時(shí)控制。
3. 自動(dòng)掃描并計(jì)算ITU IL、Min IL、Max IL、Ripple、TDL，Isolation以及不同dB值條件下的CWL、Bandwidth等各種參數(shù)。
4. 兼容復(fù)雜的CWDM模塊掃描測(cè)試和計(jì)算，如混合了EXP、UPG、Coupler器件和Monitor通道的WDM模塊，或者是MUX/DEMUX，TX/RX等多個(gè)模塊組合的特殊模組。
5. 自動(dòng)判定測(cè)試結(jié)果；所有數(shù)據(jù)通過(guò)SQL Server數(shù)據(jù)庫(kù)海量保存，自動(dòng)批量生成出貨報(bào)表。
測(cè)試界面示意圖
系統(tǒng)性能指標(biāo)
參數(shù) | 指標(biāo) | 單位Unit | ||
最小值 | 典型值 | 最大值 | ||
工作波長(zhǎng) | 1260 | 1620 | nm | |
測(cè)試指標(biāo) | IL/Ripple/ADJ/NADJ/CWL/BW//TDL,etc. | |||
插損（IL）不確定度 | ±0.05（光纖熔接測(cè)試） | dB | ||
±0.1（連接頭測(cè)試） | ||||
測(cè)量模式 | OSW掃描 | |||
單通道掃描時(shí)間 | 6-8(AQ6370，1250~1650nm，步距/Step0.1nm) | S | ||
可測(cè)產(chǎn)品類型 | CWDM器件、CWDM模塊、FWDM CWDM Device、CWDM Module、FWDM | |||
方案配置：
序號(hào) | 名稱、規(guī)格及描述 | 備注 |
1 | 寬帶光源 | 1250~1650nm |
2 | 光譜分析儀AQ6370, Agilent86142B等 | |
3 | 光開(kāi)關(guān)：1X2,1X4, 1X18機(jī)械式測(cè)試級(jí)光開(kāi)關(guān) | 重復(fù)性≤0.01dB |
4 | 測(cè)試工控電腦 | |
5 | GPIB卡 GPIB-USB-HS |
聯(lián)系我們 / CONTACT US
|
| 
微信公眾號(hào) |