功能介紹
1. 支持Bar條測試,可與自動化耦合握手,耦合對光完成之后自動進(jìn)行掃描測試。
2. 支持不同類型的CWDM4(MUX和DEMUX)以及100G Lan WDM器件的掃描和全3、帶寬的PDL測試,參數(shù)設(shè)置靈活,界面可視化、操作非常簡便。
3. 支持多工位對可調(diào)光源進(jìn)行實(shí)時(shí)并行共享掃描測試,工位互不干擾,無需排隊(duì)等待(行業(yè)首創(chuàng),百分百驗(yàn)證并有多家客戶成功案例,每個(gè)工位掃描時(shí)間相同,并且申請了專利)。
4. 自動計(jì)算ITU IL、Min IL、Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、通道帶寬和中心波長(1dB,3dB等)、Isolation、Slope、Crosstalk等參數(shù)。
5. 自動分析計(jì)算各種所需的測試參數(shù)結(jié)果和自動判定測試結(jié)果。
6. 失效參數(shù)自動區(qū)分并標(biāo)識,使失效數(shù)據(jù)一目了然。
7. 系統(tǒng)軟件兼容各種可調(diào)光源(Agilent,santec,uc等)和各種帶trigger功能的功率計(jì)。
測試界面示意圖
系統(tǒng)性能指標(biāo)
參數(shù) | 指標(biāo) | 單位 | ||
最小值 | 典型值 | 最大值 | ||
工作波長 | 1260 | 1360 | nm | |
測試指標(biāo) | IL/RIPPLE/PDL/ADJ/NADJ/CWL/BW/TDL/CROSSTALK | |||
插 損 | ±0.1(連接頭測試) | db | ||
不確定度 | ±0.1 (connector test) | |||
測量模式 | 可 調(diào)光源+高速功率計(jì) | |||
可測產(chǎn)品類型 | CWDM4(MUX/DEMUX),LAN-WDM,AWG |