WDM/FBT綜合測(cè)試系統(tǒng)
WDM/FBT綜合測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品功能介紹
1. 兼容掃描和點(diǎn)測(cè)WDM器件以及1X2,2X2Coupler產(chǎn)品。
2. 充分利用寬帶光源和光譜分析儀的低利用率實(shí)現(xiàn)寬帶光源和光譜儀的共享，可以供四個(gè)測(cè)試工位分時(shí)復(fù)用執(zhí)行測(cè)試。
3. 一次接線，可以執(zhí)行OSA掃描測(cè)試以及單點(diǎn)IL,PDL,INRL,OUTRL,DIR等參數(shù)。
4. WDM產(chǎn)品可分析數(shù)據(jù)計(jì)算IL,RIP,ADJ,NADJ,CWL,DCWL；FBT產(chǎn)品可分析數(shù)據(jù)計(jì)算IL_Min，IL_Max，WDL等參數(shù)。
5. 自動(dòng)判定測(cè)試結(jié)果；所有數(shù)據(jù)通過(guò)SQL Server數(shù)據(jù)庫(kù)海量保存，自動(dòng)批量生成出貨報(bào)表。
測(cè)試界面示意圖
系統(tǒng)性能指標(biāo)
參數(shù) | 指標(biāo) | 單位 | ||
最小值 | 典型值 | 最大值 | ||
工作波長(zhǎng) | 1260 | 1620 | nm | |
測(cè)試指標(biāo) | ITU IL/Min IL/Max IL/PDL/Ripple/TDL/CWL/Bandwidth/Isolation/PDL/INRL/OUTRL/DIR,etc. | |||
插損（IL）不確定度 | ±0.05（Fiber splicing test） | db | ||
±0.1（Connector test） | ||||
PDL不確定度 | ±0.03 | db | ||
測(cè)量模式 | OSA掃描/單功率計(jì)點(diǎn)測(cè) | |||
單次掃描時(shí)間 | 6-8 (AQ6370D，1250~1650nm，步距0.1nm) | S | ||
單點(diǎn)PDL純測(cè)時(shí)間 | 3-5 | S | ||
可測(cè)產(chǎn)品類型 | CWDM/1x2 Coupler/2x2 Coupler | |||
方案配置：
序號(hào) | 名稱、規(guī)格及描述 | 備注 |
1 | 寬帶光源 | 1250~1650nm |
2 | 光譜分析儀AQ6370, Agilent86142B等 | |
3 | WDM/FBT測(cè)試主機(jī) | |
4 | 測(cè)試工控電腦 | |
5 | GPIB卡： GPIB-USB-HS | |
6 | 1X18光開(kāi)關(guān)1X18 Optical Switch | |
7 | 18通道點(diǎn)光源 |
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