產(chǎn)品功能介紹
1. 一次接線,同時(shí)進(jìn)行全帶寬掃描測(cè)試和單點(diǎn)IL,PDL,RL,DIR測(cè)試,支持高低溫測(cè)試.
2. 一拖四共享寬帶光源和OSA光譜分析儀,節(jié)約硬件成本。
3. 兼容1X2, 2X2, 1X4 Coupler產(chǎn)品和WDM器件測(cè)試,自動(dòng)測(cè)試并計(jì)算IL、WDL、PDL、RL、DIR、UL、TDL等參數(shù)。
4. 自動(dòng)判定測(cè)試結(jié)果;所有數(shù)據(jù)通過(guò)SQL Server數(shù)據(jù)庫(kù)海量保存,自動(dòng)批量生成出貨報(bào)表。
測(cè)試界面示意圖
系統(tǒng)性能指標(biāo)
參數(shù) | 指標(biāo) | 單位 Unit | ||
最小值 | 典型值 | 最大值 | ||
工作波長(zhǎng) | 1260 | 1620 | nm | |
測(cè)試指標(biāo) | ITU IL/Min IL/Max IL/WDL/Ripple/TDL等參數(shù) | |||
插損(IL)不確定度
| ±0.05(光纖熔接測(cè)試) | dB | ||
±0.1(連接頭測(cè)試) | ||||
測(cè)量模式 | OSW掃描 | |||
單通道掃描時(shí)間 | 6-8(AQ6370,1250~1650nm,步距/step 0.1nm) | s |